???力高大同自動化設備有限公司
0769-22802588 18922995227
PRODUCTS
寬頻數字鎖相放大器
5 Hz to 11 MHz,
雙相位，雙頻
|
||
|
||
|
|
||
|
|
|
|
鎖相放大器可檢測到被噪聲掩蓋的非常細微的交流信號，被廣泛應用于掃描探針顯微鏡，大赫茲光譜儀.自旋電子學等最尖端研究領域 |
|
|
|
|
|
頻率量程 LI5660: 0.5 Hz 至 11 MHz* *當高頻輸入端使用時 LI5655: 0.5 Hz 至 3 MHz LI5650/LI5645: 1 mHz 至 250 kHz |
|
|
電壓測量 |
|
|
電流測量 10 fA 至 1 μA F.S. (不包含 LI5645) |
|
|
最小時間常數 |
|
|
動態保留100 dB 或以上 |
|
|
模擬輸出刷新率 |
|
|
雙頻率同時測量 (LI5660/LI5655/LI5650) |
|
|
分數諧波測量 按基波分數倍的頻率(1 至 63) / (1 至 63)進行測量 |
|
|
外部10 MHz同步輸入 |
|
|
測量參數: X, Y, R, θ, DC, Noise |
|
|
接口: USB, GPIB, LAN |
|
|
薄型 2U 尺寸 (88 mm) |
|
||
|
|
||
|
|
||
|
|
| 高速響應和高穩定度 |
|
|
|
|
| 電壓測量可由單端完成（A）或差分（A-B）輸入，LI5660終端既有10 Vrms輸入（C）也有高頻（HF）輸入。HF輸入端可用于高達11MHz的測量. |
|
|
|
|
|
測量可以在基礎波型因數的頻率因數（1至63）/（1至63）進行. 提供基本波型次數倍頻率的測量。在LI5660/LI5655/LI5645雙頻測量模式，可設置首次PSD和第二次PSD的個體頻率。例如，首次PSD設置為N / M與參考信號的頻率，和二次PSD設置為N次類似參考信號的頻率或設置為與主要頻率不同的頻率. |
 分次諧波 |
| 諧波測量是由兩個測量頻率之間的整數倍 (f2 = (f1 x n) ). 在這種情況下, 在f1 端信號結果在一個積分多頻 (諧波)失真, 不能區分于f2信號. 如果是分數諧波測試, 測試可以以f2 = f1 x n/m 的關系式進行, 這意味著即使失真的諧波產生于f1, 頻率也可被設定以便不影響f2. f2 高靈敏度諧波測量是可行的，且不受 f1諧波影響. | |
|
|
|
|
|
||||||||||||||||||||||
|
LI5660/LI5655/LI5650 搭配2相位敏感檢波器 (PSD), 允許包括在一個單一輸入信號中的兩個頻率分量的同時測量. 以往需要使用兩臺鎖相放大器，使用雙子束方法只需一臺鎖相放大器. 可求出測定量與基準值之比的比例運算，以及主檢波器進行與副檢波器的聯級，可在主檢波器對信號進行檢波后，再用副檢波器進行檢波. |
 檢測模式 (Dual 1) |
|||||||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||
| * LI5645的檢測模式僅為 "單一"模式. | ||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
| 使LI5600系列按通用的10 MHz頻率源于信號發生器等其他設備同步運行 (可設置) 無需使用外部參考信號(REF IN). |
 外部10 MHz 參考信號輸入設置 |
|
|
|
|
|
LI5660 |
|
|
|
|
|
||
|
|
||
|
|
||
|
|
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| : 請參閱規格. |
|
||
|
|
||
|
|
||
|
|
|
|
|
以 STM (掃描隧道顯微鏡) 和 AFM (原子力顯微鏡)為代表的掃描探針顯微鏡使用納米級的探針在樣本表面上掃描，檢測探針與樣本之間的信號.觀察樣本表面的電子狀態和結構，物理及化學性質。 鎖相放大器用于控制樣本與探針的距離等. 如采用 LI5600系列，不僅支持 MHz 量程的高諧波頻率, 還可通過縮小時間常數 (從 1 μs)實現高速掃描，并可短時間內形成圖像. 另外，通過同步濾波器，大幅降低相位檢波輸出的波動，不僅提高速度，還有助于實現高畫質. 除STM和ATM，鎖相放大器還應用于 KFM (表面電位顯微鏡)的調制信號解調等信號處理. |
|
|
|
如并用雙頻同時測量和分數諧波測量的功能，則1臺 LI5660/ LI5655/LI5650就可進行雙光束法(比例測量)的光源等的波動校正. 通過基準單元的信號施加負反饋，還可實現光源強度的穩定化. 可設定參照信號的整數倍(n x), 整數分之一 (1/m x)，分數比 (n/m x) ，因此可靈活對應光調制的頻率比。另外，在整數比的情況下，與信號失真引起的諧波分量無法區別，而采用分數比就不受到諧波的影響. 并采用10 MHz同步功能與外部的信號發生器保持同步后，還可進行采用任意2個頻率的檢測. |
|
|
|
|
|
霍爾電壓與2種信號(電流與磁場)之積成正比,其頻率為2種信號之差 (或和)頻率.使產生電流和磁場的外部信號源 LI5600系列在外部 10 MHz下同步，針對任意不同的兩個頻率，即使沒有外部參照信號 (差頻)，也可進行差頻信號的測量 (如使用雙通道輸出和頻率基準輸出的信號發生器等) 如果原有的頻率為整數*比,則還可利用分數諧波測量功能進行差頻信號的測量。并且，都可以避免由于外部參照信號而造成的串擾. |
|
|
|
||
|
|
||
|
|
||
|
|
|
|
 |
|
|
 |
|
|
 |
|
|
 |
|
|
 |
|